Skala twardości Tester twardości Hv Micro Vickers z interfejsem struktury menu ekranu dotykowego
Tester twardości THV-1000DTe Vickers z ekranem dotykowym, interfejs struktury menu, możliwość wyboru skali twardości HV
Główne cechy:
1, THV-1000DTe z ekranem dotykowym, interfejsem struktury menu, można wybrać skalę twardości HV lub HK na interfejsie, automatyczne obliczanie wartości twardości, automatyczne wyświetlanie; Konwersja między różnymi wartościami twardości, płynna regulacja źródła światła, wbudowana kamera, obraz będzie wyraźniejszy
2, skalibruj zgodnie ze standardową skalą bloku lub długości, wynik będzie dokładniejszy
3, ze strukturą okularu cyfrowego enkodera, wartością twardości i wartością D1, D2 zostaną wyświetlone bezpośrednio na ekranie
Specyfikacja techniczna:
| Model | THV-1000DTe |
| Siła próbna | 10 gf (0,098 N), 25 gf (0,245 N), 50 gf (0,49 N), 100 gf (0,98 N), 200 gf (1,96 N), 300 gf (2,94 N), 500 gf (4,9 N), 1 kg (9,8 N) |
| Noszony standard | GB / T4340, ASTM E92 |
| Rozdzielczość testu | 0,01 µm |
| Skala konwersji | Rockwell, Brinell |
| Zakres pomiaru twardości | 8 ~ 2900HV |
| Metoda obciążenia siłą testową | Automatyczny (załadunek, postój, rozładunek) |
|
Mikroskop testowy powiększenie |
100X (obserwacja), 400X (testowanie) |
| Czas oczekiwania | 0-99 s |
| Maksymalna wysokość próbki | 135mm |
| Odległość od środka do zewnętrznej ściany wgłębnika | 160mm |
| Etap XY | Wymiar: 100 * 100 mm Maksymalny ruch: 25 * 25 mm |
| Wymiar | 630 * 290 * 700 mm |
| Waga | Około 50 kg |
| Zasilacz | AC220V+5%, 50-60 Hz |
Standardowe akcesoria:
| Pozycja | Ilość | Pozycja | Ilość |
| Oś obciążeniowa | 1 | Waga | 6 |
| Okular (DHV-10X) | 1 | Mikro blok testowy (wysoki, średni) | Każdy 1 |
| Etap XY | 1 | Stopka do regulacji poziomej | 4 |
| poziom | 1 | Bezpiecznik (2A) | 2 |
| Kabel zasilający | 1 | Okładka ochronna | 1 |
| Certyfikat, karta gwarancyjna | 1 | podręcznik | 1 |
Akcesoria opcjonalne:
| Stół do testowania mocowania filamentów |
1 |
Płaski stół kontrolny do mocowania | 1 |
| Tabela testowania cienkich próbek |
1 |
Oprogramowanie testowe | 1 |
